介绍光耦IC的应用、测试、原理图和功能-先进光半导体

    现在很多电子设备都在电路中使用光耦继电器。光耦或有时被称为光隔离器允许两个电路交换信号，但仍然保持电隔离。这通常是通过使用光来中继信号来实现的。标准的光耦电路设计使用发光二极管照射在光电晶体管上，通常它是npn晶体管而不是pnp晶体管。信号被应用到LED上，然后发光二极管照亮集成电路中的晶体管。

    光与信号成正比，因此信号被传输到光电晶体管。光耦也可能出现在一些模块中，如晶闸管、光电二极管、其他半导体开关的双向晶闸管作为输出，以及白炽灯、霓虹灯或其他光源。在一个由两个晶体管组成的发光二极管和两个晶体管组成的封装中也出现了。在这篇文章中，我将只解释最常用的光耦合器，它是LED和光电晶体管的组合。光耦ic原理图如下：

    在许多电子设备的开关电源电路中，光耦是常见的。它连接在主电源和辅助电源之间。电路中的光耦应用或功能是：

    监控高电压

    输出电压采样调节

    系统控制微型电源开关

    接地隔离

    如果光耦ic发生故障，一旦打开设备，会导致设备低功率、闪烁、无电、功率不稳定甚至断电。

    为了准确检查光隔离器ic，需要使用模拟万用表。使用1欧姆和10千欧姆范围测试LED。当检查两个方向时，它应该有一个读数。如果有2个读数，则LED短路。当你检查一个正常的二极管时，测试方法是完全相同的。LED主要连接在光耦ic的引脚1和引脚2内部。

    要检查光电晶体管，将您的仪表设置为1欧姆范围的倍数，并将黑色探针放在晶体管底部，红色探针放在收集器和emmiter上。它应该显示两个类似的读数。然后把你的黑色探针移到集电极上，把红色探针移到晶体管的基极和emmiter上。它不应该记录任何读数。最后一步是把你的黑色探针放在emmiter上，红色探针放在晶体管的基极和集电极上。同样，它不应记录万用表中的任何读数。

    现在把你的仪表选择器调到10k欧姆的范围，来测量晶体管的集电极和emmiter。在一个方向上应该没有读数，而在另一个方向上应该有轻微的读数。这意味着仪表的指针将从模拟仪表的无限刻度向上移动一点。如果你得到两个读数，那么光耦有故障。光隔离器最著名的零件号之一是4N35和4N25。

    如果您想了解更多有关光耦继电器内部图的信息，我建议您查阅先进光半导体主更换指南中的正确数据表。从示意图可以更容易地描述在光耦ic的输出端是光电晶体管、光电二极管、scr还是triac型。一旦你知道了集成电路内部的元件类型，你就可以使用必要的测试方法来应用于集成电路。

    先进光半导体由南方先进联合日本归国华侨杨振林博士团队合资成立，以南方先进为主要投资方、杨博士团队为技术核心的一家专业从事光电器件、光耦合器、光耦继电器等光电集成电路以及光电驱动等产品，研发团队涵盖设计、制造、销售和服务的高新技术企业，先进光半导体拥有先进的光电器件全自动生产线，具有年产8000万只光电光耦器件的生产能力。现阶段先进光半导体的光耦继电器、光耦合器等主要产品用于：蓄电系统．智能电表．自动检测设备．电信设备．测量仪器．医疗设备．通信设备．PC端．安防监控．O/A设备．PLC控制器．I/O控制板等，依托于光半导体综合的设计技术和芯片制造技术优势，先进光半导体期望在有广阔发展前景的光电控制领域深耕，逐步提升产品的技术附加值，扩充技术含量更高的产品线。