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APSEMI
先进光半导体
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先进光半导体
  • ------热电堆温度传感器
    TO46 封装
    TO39 封装
  • ------通用型光耦继电器
  • 1路常开及2路常开1a2a
    0~80V
    0~180mA
    200~900mA
    1000~2000mA
    2100~5000mA
    100~250V
    0~180mA
    200~900mA
    1000~2000mA
    2100~5000mA
    300~400V
    0~90mA
    100~180mA
    200~500mA
    600~800V
    0~90mA
    100~180mA
    200~600mA
    1000~1500V
    20~100mA
  • 1路常闭及2路常闭1b2b
    0~80V
    0~180mA
    200~900mA
    1000~2000mA
    2100~5000mA
    100~250V
    0~180mA
    200~900mA
    1000~2000mA
    2100~5000mA
    300~400V
    0~90mA
    100~180mA
    200~600mA
    600~800V
    0~90mA
    100~180mA
    200~600mA
  • 常开常闭双路触点1a1b
    0~60V
    100~500mA
    1000~2000mA
    200~250V
    100~250mA
    350~400V
    50~90mA
    100~200mA
    600V
  • ---低阻值、低电容
  • ---增强隔离 3.75kVrms
  • ------固态继电器光耦
    APH0213/0223
    APH1213/1223
    APH2213/2223
    APH3213/3223
    APH4213/4223
  • ------高速通信光耦
    APPL-2503/30/31
    APPL-2601/11/30/31
    APPL-M501/601/70
    APPL-0501/0601/063L
    APPL-4502/03/04
    6N135
    6N136
    6N137
    6N138
    6N139
  • ------常用型光耦
    双向可控硅光耦
    MOC3020/21/22/23
    MOC3041/42/43
    MOC3051/52/53
    MOC3061/62/63
    MOC3081/82/83
    晶体管光耦
    APC814/816/817
    APC824/826/827
    APC214/224/217/227/244/247
    APC354/356/357/358
    APC1001/02/04/06/08
    4N25/26/27/28/35/37
    光伏光耦
    APLP-190/191
    APLP-3902/3904/3905/3906
    隔离放大器光耦
    IGBT驱动光耦
    MOSFET光耦
    IPM光耦合器
    光纤耦合器

光耦继电器中LED寿命性能的计算!-先进光半导体

发表时间:2020-12-25 11:36作者:光耦选型工程师

  光耦继电器广泛用于高压隔离和电噪声抑制,这是在电气系统内不同电压电位之间传输正确信息的两个基本要求。当用于工业、医疗、可再生能源环境以及任何其他预期使用寿命较长的系统时,此类系统必须能够可靠运行多年。


  计算光耦合器中LED的寿命性能以预测可靠性


  光耦广泛用于高压隔离和电噪声抑制,这是在电气系统内不同电压电位之间传输正确信息的两个基本要求。当用于工业、医疗、可再生能源环境以及任何其他预期使用寿命较长的系统时,此类系统必须能够可靠运行多年。


  先进光半导体光耦采用高可靠性LED来满足关键的系统可靠性要求。LED技术是一项成熟的技术,自引入35年来,不断改进制造工艺,以改善和改善LED性能。这使得我们的光耦可以在工业、可再生能源、汽车甚至超高任务关键应用中找到家,比如军事和航空航天应用。尽管使用光耦有许多苛刻的应用,但由于LED光输出功率随时间的推移而降低,因此仍然存在对光耦工作寿命的担忧。光功率的降低可能会导致光耦不正常和不可靠。本文通过展示光耦行业领导者如何解决产品性能问题,利用加速条件下的LED可靠性应力数据,预测预期的LED劣化性能。该分析为设计人员提供了更大的信心和设计灵活性,因此他们可以为其应用指定最合适的LED正向输入电流。


  LED可靠性压力测试


  光耦使用一个发光二极管来传输数字或模拟信息穿过隔离(或绝缘)屏障(通常只是一个气隙)。在屏障的另一侧是一个光电晶体管或其他光传感设备,它将光信号转换回电信号。设计者可以设置一个输入限流电阻,该电阻定义了一个推荐的输入驱动电流(IF)到LED,以产生所需的光输出。然而,由于LEDPN结的热应力和电应力,光耦的LED量子效率(输入电流中每个电子的总光子数)随着时间的推移而降低[2]。Avago进行应力测试,以确定其光耦不同型号中使用的各种LED类型在长达10000小时的连续运行期间的LED退化情况。如果在125°C的工作温度下进行了一次(HTOL)的连续应力试验(HTOL)。电流传递比(CTR)是通常为光耦联器指定的电气参数。CTR是指由光电二极管检测到的光引起的输出集电极电流(IC)与产生光的正向LED输入电流(IF)的比值,用百分比表示。设计师可以利用CTR随时间的变化来衡量LED退化的程度。


  由于输入电流和温度的影响,LED在晶体结构中会因热应力而退化。因此,即使保持恒定,LED的光输出也会随着时间的推移而减少。因此,光电二极管的IC和CTR将降低。在每个预先确定的压力测试时间点(168小时、500小时、1000小时等),测量IC并计算CTR。使用此数据点集合绘制LED退化性能图,以显示CTR相对于压力测试运行小时数的变化。


  光耦继电器广泛用于高压隔离和电噪声抑制,这是在电气系统内不同电压电位之间传输正确信息的两个基本要求。当用于工业、医疗、可再生能源环境以及任何其他预期使用寿命较长的系统时,此类系统必须能够可靠运行多年。


  计算光耦合器中LED的寿命性能以预测可靠性!


  光耦广泛用于高压隔离和电噪声抑制,这是在电气系统内不同电压电位之间传输正确信息的两个基本要求。当用于工业、医疗、可再生能源环境以及任何其他预期使用寿命较长的系统时,此类系统必须能够可靠运行多年。


  先进光半导体光耦采用高可靠性LED来满足关键的系统可靠性要求。LED技术是一项成熟的技术,自引入35年来,不断改进制造工艺,以改善和改善LED性能。这使得我们的光耦可以在工业、可再生能源、汽车甚至超高任务关键应用中找到家,比如军事和航空航天应用。尽管使用光耦有许多苛刻的应用,但由于LED光输出功率随时间的推移而降低,因此仍然存在对光耦工作寿命的担忧。光功率的降低可能会导致光耦不正常和不可靠。本文通过展示光耦行业领导者如何解决产品性能问题,利用加速条件下的LED可靠性应力数据,预测预期的LED劣化性能。该分析为设计人员提供了更大的信心和设计灵活性,因此他们可以为其应用指定最合适的LED正向输入电流。

国产先进光半导体光耦继电器

  LED可靠性压力测试


  光耦使用一个发光二极管来传输数字或模拟信息穿过隔离(或绝缘)屏障(通常只是一个气隙)。在屏障的另一侧是一个光电晶体管或其他光传感设备,它将光信号转换回电信号。设计者可以设置一个输入限流电阻,该电阻定义了一个推荐的输入驱动电流(IF)到LED,以产生所需的光输出。然而,由于LEDPN结的热应力和电应力,光耦的LED量子效率(输入电流中每个电子的总光子数)随着时间的推移而降低[2]。Avago进行应力测试,以确定其光耦不同型号中使用的各种LED类型在长达10000小时的连续运行期间的LED退化情况。如果在125°C的工作温度下进行了一次(HTOL)的连续应力试验(HTOL)。电流传递比(CTR)是通常为光耦联器指定的电气参数。CTR是指由光电二极管检测到的光引起的输出集电极电流(IC)与产生光的正向LED输入电流(IF)的比值,用百分比表示。设计师可以利用CTR随时间的变化来衡量LED退化的程度。


  由于输入电流和温度的影响,LED在晶体结构中会因热应力而退化。因此,即使保持恒定,LED的光输出也会随着时间的推移而减少。因此,光电二极管的IC和CTR将降低。在每个预先确定的压力测试时间点(168小时、500小时、1000小时等),测量IC并计算CTR。使用此数据点集合绘制LED退化性能图,以显示CTR相对于压力测试运行小时数的变化。


  光耦继电器广泛用于高压隔离和电噪声抑制,这是在电气系统内不同电压电位之间传输正确信息的两个基本要求。当用于工业、医疗、可再生能源环境以及任何其他预期使用寿命较长的系统时,此类系统必须能够可靠运行多年。


  计算光耦合器中LED的寿命性能以预测可靠性


  光耦广泛用于高压隔离和电噪声抑制,这是在电气系统内不同电压电位之间传输正确信息的两个基本要求。当用于工业、医疗、可再生能源环境以及任何其他预期使用寿命较长的系统时,此类系统必须能够可靠运行多年。


  先进光半导体光耦采用高可靠性LED来满足关键的系统可靠性要求。LED技术是一项成熟的技术,自引入35年来,不断改进制造工艺,以改善和改善LED性能。这使得我们的光耦可以在工业、可再生能源、汽车甚至超高任务关键应用中找到家,比如军事和航空航天应用。尽管使用光耦有许多苛刻的应用,但由于LED光输出功率随时间的推移而降低,因此仍然存在对光耦工作寿命的担忧。光功率的降低可能会导致光耦不正常和不可靠。本文通过展示光耦行业领导者如何解决产品性能问题,利用加速条件下的LED可靠性应力数据,预测预期的LED劣化性能。该分析为设计人员提供了更大的信心和设计灵活性,因此他们可以为其应用指定最合适的LED正向输入电流。


  LED可靠性压力测试


  光耦使用一个发光二极管来传输数字或模拟信息穿过隔离(或绝缘)屏障(通常只是一个气隙)。在屏障的另一侧是一个光电晶体管或其他光传感设备,它将光信号转换回电信号。设计者可以设置一个输入限流电阻,该电阻定义了一个推荐的输入驱动电流(IF)到LED,以产生所需的光输出。然而,由于LEDPN结的热应力和电应力,光耦的LED量子效率(输入电流中每个电子的总光子数)随着时间的推移而降低[2]。Avago进行应力测试,以确定其光耦不同型号中使用的各种LED类型在长达10000小时的连续运行期间的LED退化情况。如果在125°C的工作温度下进行了一次(HTOL)的连续应力试验(HTOL)。电流传递比(CTR)是通常为光耦联器指定的电气参数。CTR是指由光电二极管检测到的光引起的输出集电极电流(IC)与产生光的正向LED输入电流(IF)的比值,用百分比表示。设计师可以利用CTR随时间的变化来衡量LED退化的程度。


  由于输入电流和温度的影响,LED在晶体结构中会因热应力而退化。因此,即使保持恒定,LED的光输出也会随着时间的推移而减少。因此,光电二极管的IC和CTR将降低。在每个预先确定的压力测试时间点(168小时、500小时、1000小时等),测量IC并计算CTR。使用此数据点集合绘制LED退化性能图,以显示CTR相对于压力测试运行小时数的变化。


  先进光半导体由南方先进联合日本归国华侨杨振林博士团队合资成立,以南方先进为主要投资方、杨博士团队为技术核心的一家专业从事光电器件、光耦合器、光耦继电器等光电集成电路以及光电驱动等产品,研发团队涵盖设计、制造、销售和服务的高新技术企业,先进光半导体拥有先进的光电器件全自动生产线,具有年产8000万只光电光耦器件的生产能力。现阶段先进光半导体的光耦继电器、光耦合器等主要产品用于:蓄电系统.智能电表.自动检测设备.电信设备.测量仪器.医疗设备.通信设备.PC端.安防监控.O/A设备.PLC控制器.I/O控制板等,依托于光半导体综合的设计技术和芯片制造技术优势,先进光半导体期望在有广阔发展前景的光电控制领域深耕,逐步提升产品的技术附加值,扩充技术含量更高的产品线。


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