光耦继电器在使用过程中的可靠性问题！-先进光半导体

    光耦的输入端导致失效

    光耦的输入端多为砷化镓，因此光耦的输入端失效模式及原因与常规LED失效模式及原因相似。LED的主要失效模式包括漏电、短路以及开路。其中，造成漏电或失效的主要原因包括：静电击穿、过电应力，以及芯片表面存在导电物质等；引起开路的常见失效原因包括键合不良、导致键合丝烧断、芯片银浆粘接不良等。

    光耦的输出芯片导致失效

    光耦的输出芯片常见失效模式包括开路或阻值增大，以及阻值减小。导致阻值增大的可能原因包括：EOS烧毁导致键合丝或金属化烧断，键合不良，芯片表面离子玷污或有机胶中含氯离子导致键合点或铝布线腐蚀脱开；导致阻值减小的可能原因包括：烧毁，芯片粘接银浆污染芯片表面等。

    输入端与输出端之间传输导致失效

    输出端与输出端传输失效现象包括：CTR降低、输入端无信号时异常导通、不导通、输出电压漂移。其中，常见失效机理包括：输出端芯片ESD损伤、输出端芯片EOS烧毁、键合不良，输入端二极管发光效率降低，反射胶和导电胶开裂分层等。

    鉴于光耦的工作原理、参数、封装结构与通常的半导体器件存在差别，一方面，使用不当会导致LED、输出芯片常见的失效原因ESD、EOS、键合失效之外，还具有与普通半导体器件不一样的失效模式与机理。光耦内部由于发光二极管与接收芯片之间存在导光胶，当导光胶开裂、分层时，将会导致光路传输不畅，使光耦的CTR偏离正常值，可能出现不稳定失效；当导光胶存在腐蚀性离子时，腐蚀性离子如氯离子可能导致器件表面产生腐蚀，导致器件内部产生开路、或发生漏电情况。

    先进光半导体由南方先进联合日本归国华侨杨振林博士团队合资成立，以南方先进为主要投资方、杨博士团队为技术核心的一家专业从事光电器件、光耦合器、光耦继电器等光电集成电路以及光电驱动等产品，研发团队涵盖设计、制造、销售和服务的高新技术企业，先进光半导体拥有先进的光电器件全自动生产线，具有年产8000万只光电光耦器件的生产能力。现阶段先进光半导体的光耦继电器、光耦合器等主要产品用于：蓄电系统．智能电表．自动检测设备．电信设备．测量仪器．医疗设备．通信设备．PC端．安防监控．O/A设备．PLC控制器．I/O控制板等，依托于光半导体综合的设计技术和芯片制造技术优势，先进光半导体期望在有广阔发展前景的光电控制领域深耕，逐步提升产品的技术附加值，扩充技术含量更高的产品线。