开关电源光耦坏现象!-先进光半导体

　　在开关电源中，光耦是反馈输出电压的情况给前级控制电路的。如果光耦损坏，可能导致输出电压异常，还有可能会使电路进入过压，或过流保护状态，而无电压输出。如果光耦是用来控制电源的启停，光耦坏了，可能造成电源无法启动或无法停机。如果光耦是用于稳压负反馈，光耦坏了，可能造成输出电压异常、保护性停机、电源损坏等现象。

　　光耦基本原理

　　在光电耦合器输入端加电信号使发光源发光，光的强度取决于激励电流的大小，此光照射到封装在一起的受光器上后，因光电效应而产生了光电流，由受光器输出端引出，这样就实现了电一光一电的转换。

　　光耦坏了对电路的影响

　　在开关电源中，光耦是反馈输出电压的情况给前级控制电路的。如果光耦损坏，可能导致输出电压异常，还有可能会使电路进入过压，或过流保护状态，而无电压输出。开关电源是利用现代电力电子技术，控制开关管开通和关断的时间比率，维持稳定输出电压的一种电源，开关电源一般由脉冲宽度调制（PWM）控制IC和MOSFET构成。

　　开关电源中的光耦损坏，导致电源电路不能稳压，严重的能导电源不工作。

　　随着电力电子技术的发展和创新，使得开关电源技术也在不断地创新。目前，开关电源以小型、轻量和高效率的特点被广泛应用几乎所有的电子设备，是当今电子信息产业飞速发展不可缺少的一种电源方式。

　　大小，此光照射到封装在一起的受光器上后，因光电效应而产生了光电流，由受光器输出端引出，这样就实现了电一光一电的转换。

　　光耦的测试

　　光耦也是损坏概率较大的元件，在线测试光耦功能是否正常非常有意义。根据统计，带内部放大器的驱动光耦和模拟量输入的光耦损坏居多。

　　驱动光耦可以使用指针万用表的电阻挡，一般选取X10Ω挡就可以，可以使用此挡点亮光耦内部的发光二极管，如果光耦输出端无须接电源，则可直接使用数字万用表二极管挡测试输出响应，如果光耦输出需要带电源，则测试时还需给光耦通电。有些电路板开关电源给电后，光耦就会得电，要测试光耦直接给前级驱动电流，万用表再测试响应电压就可以。

　　模拟光耦如A7800、A7840、A7860是常见的容易损坏的元件。A7800、A7840可以自制电路测试，市面上也有专用的测试架售卖。A7800、A7840最方便的测试方法就是不拆下通电，然后测试2，3脚之间电压以及6，7脚之间电压，如果输入电压为0，输出有-20mV，则判断光耦损坏。A7860属于数字量输出的光耦，一般在电路板上成对出现，要对其进行功能测试，需要配合其他芯片编程，测试比较麻烦。比较简易的测试方法是：通电后测试6，7脚对第5脚电压，如果两个A7860电压偏差太多，则必有一个损坏，这种情况干脆两个都换掉。

　　先进光半导体由南方先进联合日本归国华侨杨振林博士团队合资成立，以南方先进为主要投资方、杨博士团队为技术核心的一家专业从事光电器件、光耦合器、光耦继电器等光电集成电路以及光电驱动等产品，研发团队涵盖设计、制造、销售和服务的高新技术企业，先进光半导体拥有先进的光电器件全自动生产线，具有年产8000万只光电光耦器件的生产能力。现阶段先进光半导体的光耦继电器、光耦合器等主要产品用于：蓄电系统．智能电表．自动检测设备．电信设备．测量仪器．医疗设备．通信设备．PC端．安防监控．O/A设备．PLC控制器．I/O控制板等，依托于光半导体综合的设计技术和芯片制造技术优势，先进光半导体期望在有广阔发展前景的光电控制领域深耕，逐步提升产品的技术附加值，扩充技术含量更高的产品线。

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